АО «Завод ПРОТОН» (МИЭТ) 124498, Москва, Зеленоград, пл. Шокина, д.1 b-loginov@mail.ru +7 (495) 364-60-93	Сканирующий зондовый микроскоп СММ-2000 атомное разрешение в СТМ / АСМ, поле до 40 / 40 / 5 мкм, 25 режимов, -20…+150 С	СММ-2000-В Микроскоп СММ-2000 в вакуумной камере под двумя магнетронами для in-situ наблюдения роста пленок и наночастиц; температура образца -100…+1200 С		МАГ-2000 Магнетрон с блоком управления для камер с аргоном 0,01 мбар Толщина сплошного покрытия – от 1 нм для графита и вольфрама
ПРАЙС СММ-2000 600 000 р. МАГ-2000 60 000 р. Мера ПРО-10 * 24 000 р. Профилометр * 360 000 р. Контурограф * 1 980 000 р. за полные комплекты, с НДС, поверкой *, при предоплате 100%, без участия в торгах скидки от количества и прежним клиентам гарантия 1 год, есть доставка, обучение		GPI-Cryo Сверхвысоковакуумная 10(-11) мбар низкотемпературная 4,9К СТМ-головка сделано 2шт: для ИОФАН и Франции	РАСМ-5 АСМ с машиной разрыва, для in-situ изучения разрыва материалов кадр 200/200/10мкм, разрешение 1нм	Кварц-XY1400/Z90нм Меры для поверки микроскопов Столбики хрома 90нм на кварце, шаг 1400нм, термостабилен. Меры вышли из Госреестра, дарятся желающим
Публикации Продажи Спецоборудование	Микроскоп СММ-2000 в виде конструктора для обучения в ВУЗ-ах и школах Магистры, бакалавры, школьники 7-11 кл. собирают микроскоп своими руками, изучают атомы и наномир, печатая его на 3D-принтере и играя в нем в игры	Профилометр модели 130 28 параметров шероховатости Ra 0,012 - 50 мкм, точность 2 % трасса до 40 мм, Госреестр СИ	Контурограф модели 220 Измерение длин, углов, радиусов, диаметров; точность до 0,001 мм трасса до 200 мм, Госреестр СИ	ПРО-10 Меры шероховатости эталонные для поверки профилометров, микроскопов и контурографов 25 номиналов от 80 до 0,006 мкм Ra от 20 до 1250 мкм Sm (шаг) Госреестр, разряд 1 по ГОСТ 8.296

Микроскоп сканирующий зондовый СММ-2000, Сканирующий мульти-микроскоп СММ-2000, Профилометр модели 130, Контурограф модели 220, Меры шероховатости эталонные ПРО-10, Магнетрон МАГ-2000, МИЭТ, Завод ПРОТОН, СТМ, сканирующий туннельный микроскоп, зонд - платиновая игла, Нобелевская премия по физике 1986г, STM, scanning tunneling microscope; АСМ, атомно-силовой микроскоп, зонды - кантилевер, AFM, Atomic force microscopy; Зондовая микроскопия, Scanning Probe Microscopy; Пирографит; Фуллерен; Нанотрубки; Графен; Нанотехнология; Нанофаб; Микроскоп-конструктор; Нанометр; Ангстрем; Высокий вакуум; Вакуумный микроскоп; Атомное разрешение; Гелий; Пьезокерамика; Кремний; Атомы; Учебный курс по зондовой микроскопии; эталон; калибровка; профилометр; шероховатость; Ra; Rz; Rm; Rmax; контурограф; измерение формы